11.5. Пример расчета надежности системы с ограниченным количеством запасных элементов
Рассмотрим применение методов теории массового обслуживания к задаче анализа показателей надежности систем, имеющих запасные элементы. Будем рассматривать объекты, работающие в составе промышленных установок, являющихся источниками повышенного риска.
Характерным примером таких установок являются энергоблоки атомных электростанций.
Объекты ядерной энергетики имеют особенность, отличающую их от других технических объектов и состоящую в том, что к их показателям надежности предъявляются высокие требования. Так коэффициент неготовности (или вероятность невыполнения задачи) для каналов системы аварийной защиты должен быть не более чемIO'7. Высокие требования предъявляются также к точности проведения расчетов.
Объекты систем ядерных энергетических установок относятся к классу высоконадежных объектов. Отказы их-события редкие. Наработки элементов до отказа сравнимы по порядку с общим временем эксплуатации системы. Высокие требования к точности результатов расчетов приводят к тому, что нельзя пренебрегать временем восстановления объектов после выявления факта отказа. В связи с вышеизложенным имеются особенности в решении задач анализа надежности указанных объектов.
Рассмотрим постановку задачи.
Требуется провести расчет характеристик надежности комплекта рабочий элемент - запасные элементы.
Стратегия функционирования элемента следующая. В начальный момент времени элемент находится в исправном состоянии. С интенсивностью X(t) элемент отказывает. В случае отказа элемент заменяется на резервный. Интенсивность замены элемента Неисправный элемент отправляется в ремонт. После ремонта элемент считается восстановившим работоспособность и переходит в резерв. Интенсивность ремонта v(t). Если исправных элементов в резерве не осталось, наступает отказ. Описанная стратегия функционирования может быть представлена с помощью графа, приведенногонарис. 11.8.
Состояние объекта на графе обозначим двумя символами (к, і), где первый символ означает количество запасных элементов,к= 0...и, второй символ - состояние основного элемента, находящегося под нагрузкой,і -1 элемент работоспособен,і = 0 элемент неработоспособен.
Рассмотрим функционирование объекта с запасными элементами более подробно. В начале работы элемент находится с вероятностью 1 в состоянии (и,1) (в наличии имеетсяпзапасных элементов, объект работоспособен). В случайный момент времени с интенсивностью отказаX(t) элемент переходит в состояние (и,0) (пзапасных элементов, объект в состоянии отказа, начинается замена элемента). С интенсивностью восстановленияjui(f) объект переходит в состояние (и -1, 1) ((и -1) запасной элемент, объект работоспособен), из этого состояния возможны переходы в состояние (и,1) с интенсивностью восстановленияv(/) (ремонт окончен, в резервеопятьпэлементов)или в состояние (и -1, 0) с интенсивностьюX(t) (ремонт не закончен до наступления следующего отказа) и так далее. Состояние(0, 0) является поглощающим и означает отказ объекта и отсутствие запасных элементов.
Рассмотренная стратегия функционирования может быть описана марковским процессом и представлена в виде системы дифференциальных уравнений
dPnl(t)/dt = -Х(0РЛД(0+v(0P„-u (0; dPn0(t)/dt = -n(t)P„,0(t) + 4t)Pni(ty,
dP^oidt = (0+-\W-u (0-(Mo+V(O)Pii (0; dPi0(o/dt = X(o Pii (0-^0^(0; (11 •13)
dPv (o/dt = iKO/% (0 - (HO+V(O)P0,! (0; dPofl (0/dt = MOP0' ,(0.
В большинстве случаев систему (11.13) можно упростить, еслиположить параметры моделиX(t), \i(t), \(t) постоянными величинами. Для электронных блоков и элементов после завершения периода приработки параметр потока отказов можно считать константой:X(t) = X.Аналогичные допущения можно сделать и для величинjll(/) = |i,v(0=v. Тогда система(11.13) может быть записана в виде
dP„1(t)/dt = ~XPnl(t) + vPn_u(t)-, dPn_0(t)/dt = -iLPni0(t) + XPn,(t);
dPtl(0/dt = iiPM,0(O+vP.u (0 - (Я+v)FfJ (0; dPiB(tVdt = XPi x(t)~ IiPi ^(t);
dPu(t)fdt = \iPw(t)~(X + v)P0l(ty,
JP0i0 (Of dt = XP01(I)-,
і =l...n—I.
В общем случае при больших прешение системы вызывает значительные трудности. В частных случаях, задаваясь конкретным значениемп -числа запасных элементов, решение системы можно получить аналитически. Покажем возможность аналитического решения для случая одного запасного элемента. Запишем систему дифференциальных уравнений:
dPn(t)ldt = -XPu (0+VPw (0; dPlfi(t)!dt = ~\iPuo(t)+XPu(ty, dP0}(t)/dt = цр10(0 -(X+v)Pw(0; dPos(t)/dt = XP0l(t),
преобразуем эту систему с помощью преобразований Лапласа (p + X)R(p)u-VR(P)01= 1; (Р+Ц)«(Р),,0-ЩР)Ц=0;
(p+X+v)R(p)0i -IiR(P)l o =0; р^(р)0,0-^к(р)и=°; решим данную систему относительноRiJtp), получим
R(p)u =
р+(2A+v+fx)p2+(vfx + A2+Xv+2Afx)p+X2fx
fttp\ p + A+v
Ад
p + {Ik +v + fx)p2 + (уд + X2 +Xv + 2Afx) p + Х2іл Х2ц
Л(P) 0,0 =
P(p3+(2A+v+fx)p2+(vfx + A2+Av + 2Afx)p+A2fx)'
Выразим знаменатель данных соотношений в виде произведения
р3+ (2A+v+|X)p2 + (v|x+A2 + Av + 2A|x)p + A2|x = (p-a)(p-b)(p-c), гдеа, Ъи с являются корнями уравнения
р3+(2A+v+fx)p2 -+-(vjj, + X,2 +Av +2Afx)p +A2fx = 0.
(Аналитическое выражение корней через А, |іи V не приводится, в силу своей громоздкости.) После применения операции обратного преобразования Лапласа получим следующие результаты:
Для системы дифференциальных уравнений типа (11.14) стационарного режима не существует, так как при времени работы, стремящемся к бесконечности, вероятность попасть в поглощающее состояние стремится к единице.
(р+Ю(р + А +у) .2
В итоге получим систему
0 = -^,i(0+vP„„u(0;
= -^(0+APnjW;
о = HWO +vP,_u(0 -(A+V)PU(0;
о =APu(O-MVf);
o = |iP10(o-(A+v)P(u(O; JP00 (0/л = APw (0; і= 1...л-1. Произведем элементарные преобразования, запишем итоговый результат fx(A+v)+afx+a( А + у)+а2 bc~ac-ab + a2 Pu =exp(af) Ц(А+у) + (А + у)6+ці>+£2 с +(A+y)c+[xc+fx(A+y) ^ -bc + ab + c2-ac j -exp(fo) + exp(cf) —b +ab+bc — ac ■i
^ (X+y)+b -bc-ab+ac+b2
pi,0 = exp(at)
+exp(6f)
\ (A+v)+c
+exp(cf)
I -ac-bc + ab + c2 J
exp(af)
exp (bt)
Pm — Afx
exp(cf)
-+Afx-
(-bc + ab+ac-a2) (-bc-ab + ac+b2) + ^ (-ac-bc + ab + c2)'
+A2fx-
Ptt 2E<2> *!>„ IxJXfe)
a(-bc+ab+ac-a )
b(-bc — ab + ac+b2) А2д
exp(cf)
c(-ac-bc + ab+c2) abc
(X+v)
Из последних соотношений видно, что каждая из вероятностей системы может быть выражена через P0 ,(f), например
= = ^4,(0;
D /*\ ^ + V _ V
ад=—Pu
P,/') = гР„") «(Ц^Р,In
и так далее. Воспользовавшись условием нормировки можно записать
Р„.о (0+Рол (0+pU (0+р.,0 (0+... +Р«д (0=1• (11.15)
Поскольку все слагаемые кроме Pfj 0выражаются через вероятностьP0 то выражение(11.15) можно переписать в виде
P0i0(0+CP0J(0 = 1 или Р00(0 = 1-сР0|(0,
где с - некоторая константа, отражающая взаимосвязь вероятности P0 с другими величинами.
Подставляя выражение для P00 в последнее уравнение системы(11.14), получим
rfPe.(0
(v + X)2 V (X+v)2 V X+v X+v С = 1 -L + - + + + 1,
X2 X цХц.X ц.для трех запасных элементов
X+v X+v (X+v)2 V (X+v)2 V (X+v)3 (X+v)v
C =I+ H—г 1- + —Tl Т + ~Г2 Ї
д X \іХ \і Xі X XzH Хц.
(X+v)v (X+v)3 (X+v)v (X+v)v ц.2 + X3 X2 цХ
Таким образом, получено простое решение задачи расчета надежности объекта с ограниченным количеством запасных элементов, в случае возобновляемого ЗИП с заданными распределениями наработки до отказа, времени восстановления и ремонта. Рассмотрена стратегия функционирования системы, имеющей запасные элементы, в которой восстановление отказавшего элемента осуществляется путем его замены из числа запасных, отказавший элемент ремонтируется случайное время и после ремонта возвращается в ЗИП. Данная схема функционирования элемента максимально приближена к стратегии, имеющей место в практике функционирования систем, важных для безопасности атомных станций.
В заключение можно отметить, что предложенная стратегия является обобщением модели «размножения и гибели»; она более объективно отражает процесс функционирования объектов, так как учитывает пребывание системы в неработоспособном состоянии во время замены отказавшего элемента. Это обстоятельство является очень важным, когда речь идет об объектах повышенного риска.
—f с
—t с
V
Константа сдовольно просто вычисляется, если известно количество запасных элементов. Так для одного запасного элемента
Aji. +A,2 + Xv+[iv Хц.
- Введение
- Глава I определениясистемного анализа
- Системность - общее свойство материи
- Определения системного анализа
- Понятие сложной системы
- Характеристика задач системного анализа
- Особенности задач системного анализа
- Глава 2 характеристика этапов системного анализа
- Процедуры системного анализа
- Анализ структуры системы
- Построение моделей систем
- Исследование ресурсных возможностей
- Определение целей системного анализа
- Формирование критериев
- Генерирование альтернатив
- Реализация выбора и принятия решений
- Внедрение результатов анализа
- Глава 3 построение моделей систем
- Понятие модели системы
- Агрегирование - метод обобщения моделей
- Глава 4 имитационное моделирование - метод проведения системных исследований
- Сущность имитационного моделирования
- Композиция дискретных систем
- Содержательное описание сложной системы
- Глава 5 теория подобия - методология обоснования применения моделей
- Модели и виды подобия
- Основные понятия физического подобия
- Элементы статистической теории подобия
- Глава 6 эксперимент - средство построения модели
- Характеристика эксперимента
- Обработка экспериментальных данных
- Глава 7 параметрические методы обработки экспериментальной информации
- 7.1. Оценивание показателей систем и определениеихточности
- 7.2. Использование метода максимального правдоподобия для оценивания параметров законов распределения
- Глава I определения системного анализа 7
- Глава 2 33
- Глава 3 построение моделей систем 53
- Глава I определения системного анализа 7
- Глава 2 33
- Глава 3 построение моделей систем 53
- 7.5. Примеры оценки показателей законов распределения
- Глава 8
- Глава I определения системного анализа 7
- Глава 2 33
- Глава 3 построение моделей систем 53
- Формулировка теоремы Байеса для событий
- Глава I определения системного анализа 7
- Глава 2 33
- Глава 3 построение моделей систем 53
- 8.3. Вычисление апостериорной плотности при последовательном накоплении информации
- Достаточные статистики
- Сопряженные распределения
- 8.9. Оценивание параметров семейства гамма-распределений
- Глава I определения системного анализа 7
- Глава 2 33
- Глава 3 построение моделей систем 53
- Глава 9
- Общие замечания
- Ядерная оценка плотности
- Глава 10
- Задача линейного программирования
- Глава I определения системного анализа 7
- Глава 2 33
- Глава 3 построение моделей систем 53
- Метод искусственных переменных
- Дискретное программирование
- Нелинейное программирование
- Глава 11 системный анализ и модели теории массового обслуживания
- Глава I определения системного анализа 7
- Глава 2 33
- Глава 3 построение моделей систем 53
- Замкнутые системы с ожиданием
- 11.5. Пример расчета надежности системы с ограниченным количеством запасных элементов
- Глава 12 численные методы в системном анализе
- Метод последовательных приближений
- Глава I определения системного анализа 7
- Глава 2 33
- Глава 3 построение моделей систем 53
- Глава 13 выбор или принятие решений
- Глава I определения системного анализа 7
- Глава 2 33
- Глава 3 построение моделей систем 53