33. Нормируемые метрологические характеристики приборов и систем.
Под метрологическим обеспечением приборов и систем поним-ся комплекс мер, направленных на достижение и подержание в этих системах требуемой точности измерения. Метрологич. обеспечение ИС на стадии их разработки, произв-ва и эксплуатации решает разл. задачи. На стадии проектирования должны быть выполнены метрологич. экспертиза проекта, технич. заданий и документации на ИС, разработка технич. средств и методик метрологич. аттестации и поверки ИС, гос. или ведомственные приемочные испытания. Метрологич. обеспечение ИС на стадии произв-ва включ. контрольные испытания и метрологич. надзор за технич. документацией и технологией изготовления ИС. В период эксплуатации должна быть обеспечена метрологич. аттестация в случае, когда условия эксплуатации отличаются от нормальных условий. Комплекс метрологич. хар-к ИС должен позволять с должной достоверностью оценить погрешность результатов измерения, получ. с помощью ИИС. В технич. документации на ИС определяю условия контроля метрологич. хар-к (МХ): объем выборки, допустимая погреш-ть измерения, минимально допустимое кол-во точек и их расположение в диапазоне измерения, условия проведения экспериментов. Хар-ки алгоритма вычислений контролируется экспериментально или расчетным методом на правильность регламентируемых значений. Контрольный состав МХ опред-ся на стадии разработки тех. задания. К нормируемым МХ основной погреш-ти относятся: моменты систематич. составляющей М[Δs], дисперсия D[Δs], СКО σ[Δs]; указыв-ся предельные значения случ. погреш-ти от трения и гистерезиса; ф-я влияния χ(ξ)=А Δ ξ, А=const; передат. ф-я, переходная и импульсная ф-ии; входное и вых. полное сопротивление.
Yandex.RTB R-A-252273-3
- Понятие “Прибор”, “Система”.
- 2. Структурные схемы приборов. Классификация приборов.
- 3. Режимы работ приборов.
- 4. Обобщённая структура иис. Аппаратные модули иис. Основные функции, выполняемые аппаратными модулями.
- 5. Классификация объектов проектирования и их параметры.
- 6. Основные этапы и задачи проектирования.
- 7. Структура тз и примеры параметров проектируемого устройства.
- 8. Схема процесса проектирования.
- 9. Математические модели и их классификация.
- 10. Классификация приборов и систем. Структурная схема системы автоматического контроля (сак).
- 11. Датчики физических величин. Структурная схема тензорезисторного датчика усилия.
- 12. Функции преобразования электронных измерительных цепей датчиков.
- 13. Нормирующие измерительные преобразователи разомкнутого типа.
- 14. Нип компенсационного типа (кип).
- 15. Масштабирующие преобразователи тока и напряжения на оу.
- 16.Способы вывода кодированной информации на цифровых индикаторах.
- 17. Газоразрядные индикаторы.
- 18. Электролюминесцентные индикаторы.
- 19. Жидкокристаллические индикаторы.
- 20. Полупроводниковые индикаторы.
- 21. Устройства регистрации информации.
- 22. Носители информации.
- 23. Кодоимпульсная запись на магнитной поверхности.
- 24. Показатели качества приборов и систем.
- 25. Квалиметрия. Системный подход как основа проектирования.
- 26. Программно-технические средства сапр.
- 27. Типовые компоненты сапр.
- 28. Пакеты моделирования pcad, microcap, micrologic/
- 29. Принципы агрегатирования при проектировании приборов и систем.
- 30. Выбор интерфейсов измерительных систем. Структурные схемы интерфейсов.
- 31. Приборный интерфейс.
- 32. Проектирование программного обеспечения (по) измерительных систем (ис).
- 33. Нормируемые метрологические характеристики приборов и систем.
- 34. Технические средства метрологических поверок.
- 35. Сертификация приборов и систем.
- 36. Физические величины и поля. Примеры преобразования физических величин и полей.
- 37. Расчёт основных характеристик индуктивного преобразователя.
- 38. Влияние внешней среды на параметры преобразователей.
- 39. Методы повышения точности.
- 41. Основные требования к ацп и цап.
- Характеристики статической точности
- Динамические характеристики цап и ацп
- Условия применения цап и ацп
- Содержание.