Общая собранная шпора
34. Технические средства метрологических поверок.
Имеются 2 осн. пути реализации поверок, производимых в целях установления соотв-я хар-к поверяемой системы метрологич. нормам.
Структурная схема автоматизир. испытаний системы с устройством формирования образцовых сигналов (а) или образцовым прибором (б). Путь а связан с испытанием для поверки калибраторов, формирующих образцовые сигналы, подаваемые на вход поверяемой ИС. Путь б предусматривает применение образцовых приборов или преобразователей для измерения сигналов, подаваемых на вход контролируемой ИС и сравнения рез-в измерения, получ. образцовыми ср-ми измерения и поверяемой ИС. Технич. ср-ва метрологич. поверки м.б. внешними (автономными) по отношению к поверяемым ИС и встроенными в них.
Yandex.RTB R-A-252273-3
Содержание
- Понятие “Прибор”, “Система”.
- 2. Структурные схемы приборов. Классификация приборов.
- 3. Режимы работ приборов.
- 4. Обобщённая структура иис. Аппаратные модули иис. Основные функции, выполняемые аппаратными модулями.
- 5. Классификация объектов проектирования и их параметры.
- 6. Основные этапы и задачи проектирования.
- 7. Структура тз и примеры параметров проектируемого устройства.
- 8. Схема процесса проектирования.
- 9. Математические модели и их классификация.
- 10. Классификация приборов и систем. Структурная схема системы автоматического контроля (сак).
- 11. Датчики физических величин. Структурная схема тензорезисторного датчика усилия.
- 12. Функции преобразования электронных измерительных цепей датчиков.
- 13. Нормирующие измерительные преобразователи разомкнутого типа.
- 14. Нип компенсационного типа (кип).
- 15. Масштабирующие преобразователи тока и напряжения на оу.
- 16.Способы вывода кодированной информации на цифровых индикаторах.
- 17. Газоразрядные индикаторы.
- 18. Электролюминесцентные индикаторы.
- 19. Жидкокристаллические индикаторы.
- 20. Полупроводниковые индикаторы.
- 21. Устройства регистрации информации.
- 22. Носители информации.
- 23. Кодоимпульсная запись на магнитной поверхности.
- 24. Показатели качества приборов и систем.
- 25. Квалиметрия. Системный подход как основа проектирования.
- 26. Программно-технические средства сапр.
- 27. Типовые компоненты сапр.
- 28. Пакеты моделирования pcad, microcap, micrologic/
- 29. Принципы агрегатирования при проектировании приборов и систем.
- 30. Выбор интерфейсов измерительных систем. Структурные схемы интерфейсов.
- 31. Приборный интерфейс.
- 32. Проектирование программного обеспечения (по) измерительных систем (ис).
- 33. Нормируемые метрологические характеристики приборов и систем.
- 34. Технические средства метрологических поверок.
- 35. Сертификация приборов и систем.
- 36. Физические величины и поля. Примеры преобразования физических величин и полей.
- 37. Расчёт основных характеристик индуктивного преобразователя.
- 38. Влияние внешней среды на параметры преобразователей.
- 39. Методы повышения точности.
- 41. Основные требования к ацп и цап.
- Характеристики статической точности
- Динамические характеристики цап и ацп
- Условия применения цап и ацп
- Содержание.