25. Квалиметрия. Системный подход как основа проектирования.
Раздел науки, занимающийся вопросами изучения и реализации методов количественной оценки качества продукции, называется квалиметрией. Квалиметрия – направление науки о количественных закономерностях формирования качества продукции в сферах проектирования, изготовления, эксплуатации и методах их численного определения.
Под качеством изделия квалиметрии подразумевается не просто надёжность системы (изделия), а весь объём достигаемого эффекта. С этих позиций все показатели качества любого изделия можно разделить на две группы:
критерий полезного эффекта, полученного в результате его создания;
критерий затрат на достижение полезного эффекта.
Под проектированием понимают комплекс работ по разработкам, изысканиям, исследованиям и расчётам, имеющим целью создать новое изделие или реализовать новые процессы.
Спроектировать изделие – выбрать наилучшие компромиссные решения относительно его структуры, параметров и способа его реализации, определяющих его эффективность в течение эксплуатации.
Для решения комплексных вопросов проектирования применяется единая исследуемая позиция – системный подход.
Суть этого подхода заключается в том, что на первом месте стоит не анализ частей системы, а уяснения их взаимодействий как единого целого, раскрытия тех механизмов, которые обеспечивают качественно новые свойства системы, не присущие её составным частям в отдельности. Т.е. главной задачей считается достижение удовлетворительной работы всей системы.
Одно из основных требований системного подхода – изучение системы во взаимодействии её с окружающей средой. Любая система существует в связи с другими системами. Через эти связи осуществляется взаимное влияние систем. В качестве возмущающих факторов, характеризующих среду, выступают входные воздействия, изменение условий эксплуатации, подключение и отключение различных агрегатов и других элементов устройств, а также подключение и отключение источников питания.
Также является отличительной особенностью – рассмотрение возможных альтернативных вариантов построения системы. Часто оказывается, что желаемый результат может быть одинаковым при различном выборе структуры и параметров системы, а также её элементной базы.
При проектировании (при решении задач) необходимо учитывать существование ряда ограничений на материальные, энергетические и временные ресурсы, также необходимо удовлетворять ряд противоречий.
Системный подход предполагает в рассмотрении проблемы уделять внимание тенденции различных совершенствований, т.е. модернизация подсистемы (системы) в ходе дальнейшей эксплуатации и предусмотреть расширение функций области применения системы.
Yandex.RTB R-A-252273-3
- Понятие “Прибор”, “Система”.
- 2. Структурные схемы приборов. Классификация приборов.
- 3. Режимы работ приборов.
- 4. Обобщённая структура иис. Аппаратные модули иис. Основные функции, выполняемые аппаратными модулями.
- 5. Классификация объектов проектирования и их параметры.
- 6. Основные этапы и задачи проектирования.
- 7. Структура тз и примеры параметров проектируемого устройства.
- 8. Схема процесса проектирования.
- 9. Математические модели и их классификация.
- 10. Классификация приборов и систем. Структурная схема системы автоматического контроля (сак).
- 11. Датчики физических величин. Структурная схема тензорезисторного датчика усилия.
- 12. Функции преобразования электронных измерительных цепей датчиков.
- 13. Нормирующие измерительные преобразователи разомкнутого типа.
- 14. Нип компенсационного типа (кип).
- 15. Масштабирующие преобразователи тока и напряжения на оу.
- 16.Способы вывода кодированной информации на цифровых индикаторах.
- 17. Газоразрядные индикаторы.
- 18. Электролюминесцентные индикаторы.
- 19. Жидкокристаллические индикаторы.
- 20. Полупроводниковые индикаторы.
- 21. Устройства регистрации информации.
- 22. Носители информации.
- 23. Кодоимпульсная запись на магнитной поверхности.
- 24. Показатели качества приборов и систем.
- 25. Квалиметрия. Системный подход как основа проектирования.
- 26. Программно-технические средства сапр.
- 27. Типовые компоненты сапр.
- 28. Пакеты моделирования pcad, microcap, micrologic/
- 29. Принципы агрегатирования при проектировании приборов и систем.
- 30. Выбор интерфейсов измерительных систем. Структурные схемы интерфейсов.
- 31. Приборный интерфейс.
- 32. Проектирование программного обеспечения (по) измерительных систем (ис).
- 33. Нормируемые метрологические характеристики приборов и систем.
- 34. Технические средства метрологических поверок.
- 35. Сертификация приборов и систем.
- 36. Физические величины и поля. Примеры преобразования физических величин и полей.
- 37. Расчёт основных характеристик индуктивного преобразователя.
- 38. Влияние внешней среды на параметры преобразователей.
- 39. Методы повышения точности.
- 41. Основные требования к ацп и цап.
- Характеристики статической точности
- Динамические характеристики цап и ацп
- Условия применения цап и ацп
- Содержание.