39. Методы повышения точности.
Растущие требования точности функции преобразования (ФП) первичных преобразователей (датчиков) вызывают необходимость изыскания методов коррекции и стабилизации выходных параметров. После изготовления датчика его реальная ФП может отличаться от номинальной вследствие наличия методической и инструментальной погрешностей. В этом случае возникает задача коррекции реальной функции преобразования, т.е. её максимальные приближения к номинальной ФП. Указанная коррекция может быть осуществлена конструктивными и схемными путями. В первом случае используют дополнительные регулировочные элементы, с помощью которых можно воздействовать на аддитивные и мультипликативные погрешности.
Рассмотрим структурную схему для корректировки мультипликативной погрешности:
ЧЭ – чувствительный элемент; РИП – регулируемый источник поля; ДЧЭ – дополнительный ЧЭ; ВУ – вычислительное устройство. Работа схемы: с помощью имеющейся информации действовать через РИП и вести корректировку.
Структурная схема, позволяющая регулировать аддитивную составляющую погрешности:
КК – коррекционный контур; СС – схема сравнения; ИК - измерительный контур; ИОН – источник опорного напряжения.
40. АЦП и ЦАП.
ЦАП и АЦП в цифр-й измерит-й технике рассматрив-я как один из видов измерений имеющих нормиров-е метролог-е хар-ки.
Вых-й сигнал ЦАП и АЦП не может непосред-о наблюдаться оператором. Под непр-й величиной x(t) поним-ся такая величина кот-я
ОК – объект контроля;
УСО – устройство сопряжения с объектом;
ПУО – пульт управления оператора;
СОИ – сист-ма отображения
Yandex.RTB R-A-252273-3
- Понятие “Прибор”, “Система”.
- 2. Структурные схемы приборов. Классификация приборов.
- 3. Режимы работ приборов.
- 4. Обобщённая структура иис. Аппаратные модули иис. Основные функции, выполняемые аппаратными модулями.
- 5. Классификация объектов проектирования и их параметры.
- 6. Основные этапы и задачи проектирования.
- 7. Структура тз и примеры параметров проектируемого устройства.
- 8. Схема процесса проектирования.
- 9. Математические модели и их классификация.
- 10. Классификация приборов и систем. Структурная схема системы автоматического контроля (сак).
- 11. Датчики физических величин. Структурная схема тензорезисторного датчика усилия.
- 12. Функции преобразования электронных измерительных цепей датчиков.
- 13. Нормирующие измерительные преобразователи разомкнутого типа.
- 14. Нип компенсационного типа (кип).
- 15. Масштабирующие преобразователи тока и напряжения на оу.
- 16.Способы вывода кодированной информации на цифровых индикаторах.
- 17. Газоразрядные индикаторы.
- 18. Электролюминесцентные индикаторы.
- 19. Жидкокристаллические индикаторы.
- 20. Полупроводниковые индикаторы.
- 21. Устройства регистрации информации.
- 22. Носители информации.
- 23. Кодоимпульсная запись на магнитной поверхности.
- 24. Показатели качества приборов и систем.
- 25. Квалиметрия. Системный подход как основа проектирования.
- 26. Программно-технические средства сапр.
- 27. Типовые компоненты сапр.
- 28. Пакеты моделирования pcad, microcap, micrologic/
- 29. Принципы агрегатирования при проектировании приборов и систем.
- 30. Выбор интерфейсов измерительных систем. Структурные схемы интерфейсов.
- 31. Приборный интерфейс.
- 32. Проектирование программного обеспечения (по) измерительных систем (ис).
- 33. Нормируемые метрологические характеристики приборов и систем.
- 34. Технические средства метрологических поверок.
- 35. Сертификация приборов и систем.
- 36. Физические величины и поля. Примеры преобразования физических величин и полей.
- 37. Расчёт основных характеристик индуктивного преобразователя.
- 38. Влияние внешней среды на параметры преобразователей.
- 39. Методы повышения точности.
- 41. Основные требования к ацп и цап.
- Характеристики статической точности
- Динамические характеристики цап и ацп
- Условия применения цап и ацп
- Содержание.